PRODUCT
- Texas Instrument DLP技術で開発されたDMD反射チップ分光器を採用
- 優れた信号雑音比、更に増した測定安定性
- 900-1700nm、1340-2280nmの2種類の波長帯から選択可能
- 1340-2280nm : 2段階電子冷却をサポート
製品仕様表
型番 | DF1514 | DF1934 |
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波長範囲 | 900-1700nm | 1340-2280nm |
スリット幅 | 25um | 25um |
分解能 | <12nm (Pattern Width 2.34nm) | <14nm (Pattern Width 2.34nm) |
センサ | 1mm InGaAs PD | 2 段階冷却 TEC InGaAs PD |
S/N比 | 8000 | 7000 |
スキャンモード | Column mode / Hadamard mode | |
体積 (長さx幅x高さ) | 71.5 x 57 x 25 mm コントロールパネルを含む | 76.7 x 60 x 40 mm コントロールパネルを含む |
入光インターフェース | SMA905 | |
データ伝送モード | Micro USB または UART |